宽温技术

Introduction

工业级应用产品需承受比一般消费型产品更严苛的运作环境,如震荡冲击相当普遍的军事应用、长时间运作不间断的车用领域,或是极端运作温度的工业厂房。为因应严峻的运作环境,提高产品耐用度与可靠度是不二法门,将产品赋予宽温技术则是当今工业级应用的基本要求。

创见提供Flash与SSD产品在-40℃ 到 85℃的温度范围内保有稳定的运作效能。DDR4内存模块则可在-40℃ 到 95℃的温度范围内展现可靠耐用的效能。

创见使用独家研发的宽温循环测试机进行产品温度测试。检测人员将Flash和DRAM内存模块置入此仪器中,经历快速、急遽的温度改变以检验装置在极端温度下的效能状态。检测状况以LED信号灯显示,未达标准的设备会另外挑出,进行额外的检测以排除问题。

创见遵循JEDEC所发布的耐用性标准JESD218A: SSD Requirement and Endurance Test Method。为确保固态硬盘的耐用性和可靠性, JEDEC强调固态硬盘在特定工作负载和运作温度下需达到一定的耐用性与可靠性指针,分别为无法修正位错误率 (Uncorrectable Bit Error Rate,UBER) 1 和功能性错误要求 (Functional Failure Requirement,FFR) 2,此两项数值可衡量固态硬盘在读写过程中的错误值/比率。


规格 工作负载(供电) 资料保存(断电) FFR UBER
消费级 40℃
8小时/天
30℃
1年
≦3% ≦10-15
企业级 55℃
24小时/天
40℃
3个月
≦3% ≦10-16
表一:固态硬盘规格与要求 来源:JESD218A

JEDEC 根据固态硬盘不同的工作负载,分成企业级(Enterprise)和消费级(Client)两种不同规格,不同工作负载的固态硬盘其耐用性和可靠性有一定标准。创见采用的是消费级标准。表格中的检测数值为一参考指针,用户选择产品时,可以知道储存设备在什么样的温度下可以运行多长时间,数据保存期限为多久,进而选择适用产品。

创见将宽温技术纳入许多系列产品,如固态硬盘、SD闪存卡和DRAM内存模块,同时提供不同储存容量和规格尺寸以符合客户多样化的需求。

  • 1. 无法修正位错误率 (Uncorrectable Bit Error Rate,UBER) 表示在测试时间间隔中,无法修正的位错误数除以总传输位数的值。
  • 2. 功能性错误要求 (Functional Failure Requirement,FFR)表示写入过程中累计的功能性错误。
  • 3. 温度范围因产品而不同,请至产品叶面了解更多信息。

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